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標(biāo)準(zhǔn)孔當(dāng)量計(jì)算法-超聲波檢測(cè)缺陷定量 3
缺陷定量包括確定缺陷的大小和數(shù)量，而缺陷的大小指缺陷的面積和長(zhǎng)度。一般超聲波缺陷定量可以分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。 ①小于晶片直徑的缺陷定量包括等效試塊直接比較法（試塊法）、當(dāng)量計(jì)算法（計(jì)算法）、AVG曲線法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直徑的缺陷定量包括相對(duì)靈敏度測(cè)量方法（測(cè)長(zhǎng)法），絕_對(duì)靈敏度測(cè)量方法，極坐標(biāo)作圖方法，包絡(luò)作圖方法（超聲C掃描）和標(biāo)準(zhǔn)圖
發(fā)布時(shí)間：2022-05-01 19:33
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底波當(dāng)量計(jì)算法-超聲波檢測(cè)缺陷定量 2
缺陷定量包括確定缺陷的大小和數(shù)量，而缺陷的大小指缺陷的面積和長(zhǎng)度。一般超聲波缺陷定量可以分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。 ①小于晶片直徑的缺陷定量包括等效試塊直接比較法（試塊法）、當(dāng)量計(jì)算法（計(jì)算法）、AVG曲線法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直徑的缺陷定量包括相對(duì)靈敏度測(cè)量方法（測(cè)長(zhǎng)法），絕_對(duì)靈敏度測(cè)量方法，極坐標(biāo)作圖方法，包絡(luò)作圖方法（超聲C掃描）和標(biāo)準(zhǔn)圖
發(fā)布時(shí)間：2022-04-20 09:31
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試塊法-超聲波檢測(cè)缺陷定量1
缺陷定量包括確定缺陷的大小和數(shù)量，而缺陷的大小指缺陷的面積和長(zhǎng)度。一般超聲波缺陷定量可以分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。 ①小于晶片直徑的缺陷定量包括等效試塊直接比較法（試塊法）、當(dāng)量計(jì)算法（計(jì)算法）、AVG曲線法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直徑的缺陷定量包括相對(duì)靈敏度測(cè)量方法（測(cè)長(zhǎng)法），絕_對(duì)靈敏度測(cè)量方法，極坐標(biāo)作圖方法，包絡(luò)作圖方法（超聲C掃描）和標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布時(shí)間：2022-04-15 08:48
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超聲幻象波
幻象波現(xiàn)象： 超聲波探傷儀使用者用直探頭檢測(cè)軸類工件和鍛件有時(shí)候會(huì)碰到一個(gè)奇怪的現(xiàn)象，檢測(cè)時(shí)找到一個(gè)底波前清晰穩(wěn)定的缺陷波，評(píng)估時(shí)發(fā)現(xiàn)，這個(gè)缺陷波在不同位置都有，不管是探頭軸向移動(dòng)還是周向移動(dòng)，缺陷波都存在，距離固定。 但是換個(gè)不同頻率探頭卻發(fā)現(xiàn)，這個(gè)遍布軸全身的“大缺陷”找不到了。這個(gè)波很有可能就是幻象波，也稱幽靈波或鬼波。幻象波原理 超聲波探傷幻象波不是缺陷波，也不是給類變形波，
發(fā)布時(shí)間：2022-04-11 08:32
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超聲C掃描檢測(cè)一般流程
1.開機(jī)：打開電源，啟動(dòng)超聲檢測(cè)系統(tǒng)。2.放入檢測(cè)件：將被檢工件放入水槽的檢測(cè)工位上，可以自動(dòng)上料或者手動(dòng)上料。3.找到波形：移動(dòng)超聲探頭到工件表面，找到表面波、底波等，設(shè)置好探頭離工件距離。4.設(shè)置超聲參數(shù)：調(diào)整探頭使之垂直于工件，設(shè)置頻帶、增益（dB），閘門等信息。5.設(shè)置掃查參數(shù)：設(shè)置掃查起點(diǎn)、終點(diǎn)；掃下密度（間距）；掃查形式等信息。6.開始掃查，設(shè)備開始自動(dòng)運(yùn)行并掃查。7.評(píng)估掃查結(jié)果，出
發(fā)布時(shí)間：2022-04-09 08:25
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典型件超聲檢測(cè)技術(shù)
1.鍛件檢測(cè) 鍛件的種類和規(guī)格很多，常見的類型有：餅盤件、環(huán)形件、軸類件和筒形件等。鍛件中的缺陷多呈現(xiàn)面積形或長(zhǎng)條形的特征。由于超聲檢測(cè)技術(shù)對(duì)面積型缺陷檢測(cè)很有利，因此鍛件是超聲檢測(cè)實(shí)際應(yīng)用的主要對(duì)象。 鍛件中的常見缺陷。鍛件中的缺陷主要來(lái)源于兩個(gè)方面：材料鍛造過程中形成的縮孔、縮松、夾雜及偏析等；熱處理中產(chǎn)生的白點(diǎn)、裂紋和晶粒粗大等。 鍛件可采用接觸法或液浸法進(jìn)行檢測(cè)。鍛件的組織很
發(fā)布時(shí)間：2022-04-03 16:10
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超聲探頭的選擇
1.頻率 超聲波的頻率在很大程度上決定了其對(duì)缺陷的探測(cè)能力。頻率的選擇可以這樣考慮：對(duì)于小缺陷、近表面缺陷或薄件的檢測(cè)，可以選擇較高頻率；對(duì)于大厚度試件、高衰減材料，應(yīng)選擇較低頻率。針對(duì)具體對(duì)象，適用的頻率需在上述考慮當(dāng)中取得一個(gè)平衡，既要保證所需尺寸缺陷的檢出，并滿足分辨力的要求，也要保證在整個(gè)檢測(cè)范圍內(nèi)具有足夠的靈敏度與信噪比。 2.晶片尺寸 探頭晶片尺寸對(duì)檢測(cè)的影響主要是通過其
發(fā)布時(shí)間：2022-03-31 15:23
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超聲波探頭分類
超聲波探頭的作用。超聲波探頭用于實(shí)現(xiàn)聲能和電能的互相轉(zhuǎn)換。它是利用壓電晶體的正、逆壓電效應(yīng)進(jìn)行換能的。探頭是組成檢測(cè)系統(tǒng)的重要的組件，其性能的好壞直接影響超聲檢測(cè)的效果。 常用超聲波探頭的類型。超聲波檢測(cè)中由于被探測(cè)工件的形狀和材質(zhì)、探測(cè)的目的、探測(cè)的條件不同，因而要使用各種不同形式的探頭。其中常用的是接觸式縱波直探頭、接觸式橫波斜探頭、雙晶探頭、水浸探頭與聚焦探頭等。一般橫波斜探
發(fā)布時(shí)間：2022-03-28 08:23
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超聲檢測(cè)方法分類
超聲檢測(cè)的方法很多，可按原理、波型和使用探頭的數(shù)目及探頭接觸方式來(lái)分類。按原理分類，有脈沖反射法、穿透法和共振法；按顯示方式分類，有A型顯示、B型顯示和C型顯示；按波型分類，有縱波法、橫波法、表面波法和板波法；按探頭數(shù)目分類，有單探頭法、雙探頭法和多探頭法；按耦合方式分類，有接觸法和液浸法；按入射角度分類，有直射聲束法和斜射聲束法。 穿透法通常采用兩個(gè)探頭，分別放置在試件兩側(cè)，一個(gè)將脈沖
發(fā)布時(shí)間：2022-03-26 08:30
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超聲和射線選取方法
1.射線照相檢測(cè)和超聲檢測(cè)主要用于探測(cè)被檢物內(nèi)部的缺陷； 渦流檢測(cè)和磁粉檢測(cè)用于探測(cè)被檢物表面和近表面的缺陷； 滲透檢測(cè)僅用于探測(cè)被檢物表面開口的缺陷。2.射線照相檢測(cè)適用于探測(cè)被檢物內(nèi)部的體積型缺陷，如氣孔、夾渣、縮孔、疏松等； 超聲檢測(cè)適用于探測(cè)被檢物內(nèi)部的面積型缺陷，如裂紋、白點(diǎn)、分層和焊縫中的未熔合等。3.射線照相檢測(cè)常被用于檢測(cè)金屬鑄件和焊縫， 超聲檢測(cè)常被用于檢測(cè)金屬鍛件、型材和焊縫。
發(fā)布時(shí)間：2022-03-23 08:27
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無(wú)損檢測(cè)的選取方法
無(wú)損檢測(cè)選取方法1.無(wú)損檢測(cè)的特點(diǎn)是能在不損傷材料，工件和結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行檢測(cè)，檢查率幾乎可達(dá)100%。但無(wú)損檢測(cè)自身還有局限性，比如超聲波檢測(cè)對(duì)缺陷定性困難，射線檢測(cè)不易檢出大面積型缺陷（鋼板分層），磁力和滲透檢測(cè)只能檢測(cè)表面或壓表面缺陷。缺陷對(duì)材料的物理參數(shù)影響多大，只能通過破壞性檢測(cè)來(lái)驗(yàn)證。因此，無(wú)損檢測(cè)還不能完全代替破壞性試驗(yàn)。2.正確選用實(shí)施無(wú)損檢測(cè)的時(shí)機(jī)在進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)時(shí)需根據(jù)無(wú)損檢測(cè)的
發(fā)布時(shí)間：2022-03-22 08:47
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無(wú)損檢測(cè)的定義
1.無(wú)損檢測(cè)的定義：就是指在不破壞試件的前提下對(duì)試件進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。人們用視覺和聽覺進(jìn)行一些檢查也算無(wú)損檢測(cè)。但對(duì)現(xiàn)代的無(wú)損檢測(cè)有嚴(yán)格的定義，即：無(wú)損檢測(cè)是在不破壞試件的前提下，以物理和化學(xué)方法為手段，借助先進(jìn)對(duì)額技術(shù)和設(shè)備器材，對(duì)試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)，性質(zhì)狀態(tài)進(jìn)行測(cè)試的方法。2.無(wú)損檢測(cè)的目的：應(yīng)用無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，可以檢測(cè)肉眼無(wú)法看到的試件內(nèi)部缺陷。無(wú)損檢測(cè)技術(shù)對(duì)缺陷檢測(cè)的應(yīng)用范圍廣，靈敏
發(fā)布時(shí)間：2022-03-21 09:30
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超聲A、B、C掃描是什么
超聲波A掃描 超聲A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。如圖1，當(dāng)超聲探頭發(fā)出的超聲波束穿透工件時(shí)，會(huì)在工件的界面處、缺陷處、底面處產(chǎn)生不同時(shí)間點(diǎn)的回波。當(dāng)探頭所在區(qū)域沒有缺陷時(shí)，如探頭B及右側(cè)顯示屏B所示，會(huì)在橫軸時(shí)間t=0產(chǎn)生界面波，橫縱時(shí)間t=6處產(chǎn)生底波（底面回波），而在時(shí)間t:0~6之間無(wú)其他回波，其中波形圖中橫軸為時(shí)
發(fā)布時(shí)間：2022-02-18 20:44
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超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)缺點(diǎn)
超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn)；缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對(duì)缺陷沒有直觀性；超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。
發(fā)布時(shí)間：2022-02-18 20:43
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超聲波探傷優(yōu)缺點(diǎn)
1、主要優(yōu)點(diǎn)穿透能力強(qiáng)，探測(cè)深度可達(dá)數(shù)米；靈敏度高，可發(fā)現(xiàn)與直徑約零點(diǎn)幾毫米的空氣隙反射能力相當(dāng)?shù)姆瓷潴w；在確定內(nèi)部反射體的位向、大小、形狀及等方面較為準(zhǔn)確；可立即提供缺陷檢驗(yàn)結(jié)果;操作**,設(shè)備輕便。2、主要缺點(diǎn)超聲波探傷對(duì)缺陷的顯示不直觀，探傷技術(shù)難度大，容易受到主、客觀因素的影響，對(duì)粗糙、形狀不規(guī)則、小、薄或非均質(zhì)材料難以檢查；對(duì)所發(fā)現(xiàn)缺陷作十分準(zhǔn)確的定性、定量表征仍有困難；不適合有空腔的結(jié)
發(fā)布時(shí)間：2022-02-18 20:39
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